更新时间：2026年3月14日
TestMAX
TestMAX是新思科技推出的可测性设计解决方案，支持边界扫描、扫描链插入、ATPG、逻辑内建自测试等功能。覆盖完整DFT流程，帮助提高芯片良率和可测性，支持多芯片系统的测试规划与管理。
TestMAX是新思科技推出的全面可测性设计解决方案，与DFT Compiler共同构成了Synopsys的测试综合解决方案。TestMAX帮助芯片设计团队在设计阶段嵌入测试结构，提高芯片的可测试性和制造良率，降低测试成本。
TestMAX的核心功能包括扫描链插入、ATPG自动测试向量生成、逻辑内建自测试和存储器自检与修复等。这些功能覆盖了从RTL级早期验证到最终测试向量生成的完整DFT流程。
扫描链插入是DFT的基础功能。TestMAX能够自动将设计中的触发器替换为扫描触发器，并连接成扫描链。工具支持多种扫描链架构，包括多扫描链、压缩扫描链等，可根据测试时间和测试引脚约束进行优化配置。
ATPG是TestMAX的核心能力之一。工具能够自动生成测试向量，检测制造过程中的各种故障类型，包括固定型故障、过渡故障、路径延迟故障等。TestMAX的ATPG引擎经过多年优化，能够生成高覆盖率的测试向量。
软件分类：
仿真验证
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