是德科技举办南京射频芯片测试技术研讨会,聚焦AI时代测试挑战

类别: 活动资讯 发布日期:

2026年5月26日,是德科技(Keysight)与南京集成电路产业服务中心联合举办射频芯片测试技术研讨会,聚焦2026年高速与射频芯片测试的前沿挑战及工程实践,紧扣AI算力爆发、Chiplet异构集成、国产替代加速等核心行业趋势。

研讨会涵盖片上射频测试、高速PCB及数据线缆测试等方向。是德科技解决方案工程师王凡介绍了PA、TR组件、Mixer、MMIC等器件参数测试及测试方案,并分享了AI时代下高速PCB及数据电缆的趋势及测试挑战。

南京理工大学教授黄同德分享了低相噪硅基振荡器芯片设计。南京三乐集团微电子事业部蒋伊伊介绍了大功率射频器件从验证到量产的测试工程化实践与自动化测试体系搭建。

同日,是德科技还在西安君悦酒店举办测试新品展示会,聚焦AI、商业航天、无线通信等前沿领域的最新洞察与实践案例。会议议程包括:从材料到组件的卫星全产业链设计测试方案、商业航天面临的宽带通信测试挑战、新一代数字测试新品XR8架构解析、从基带到射频的无线前沿新技术测试难题。

2026年5月27日,是德科技将在新竹举办光启未来:CPO引领AI Scaling技术论坛,聚焦CPO生态系、EOE设计模拟、光子IC量测、SiPh晶圆测试与1600GE端对端Throughput验证。

是德科技(NYSE:KEYS)是全球领先的电子测试测量公司,前身是惠普公司的测试测量部门,2014年独立上市。公司提供先进的设计、仿真和测试解决方案,客户遍及全球通信、工业自动化、航空航天与国防、汽车、半导体和通用电子等市场。

版权声明:

1. 本站部分内容源自互联网公开信息和用户自主上传,旨在传递行业知识、促进技术交流,不声明或保证内容的绝对准确性

2. 若您认为某内容侵犯了您的合法权益(包括但不限于著作权、商标权),请通过以下方式提交权属证明:
邮箱:service@softxiaoer.com 主题:【侵权删除】+文章标题/网址

3. 收到有效通知后,我们将在72小时内核实并删除相关内容;

4. 转载/引用本站内容请注明来源并添加反向链接。